Ions Lourds et Protons (SEE)

Les ions lourds et protons peuvent être à l’origine d’événements singuliers (SEE). Ces événements entraînent des effets non désirables voire destructifs sur le fonctionnement des composants.

 SEL (Single Event Latchup)
 SET (Single Event Transients)
 SEU (Single Event Upsets)
 SEGR, SEB
 SEFI, Stuck-Bits…

Les procédures de tests mises en place sont conformes aux spécifications MIL STD, ESA ESCC, ASTM ou autres selon vos besoins. Avec plus de 10 ans d’expérience, TRAD a déjà testé plusieurs centaines de composants.